仪器名称 高分辨透射电子显微镜

型号 TF20

生产厂家 FEI 

安装年份 2010 

价格 597万 

仪器现状 正常 

联系人 么爽

电话 0431-85262361

电子邮箱 yaoshuang@ciac.ac.cn

仪器设备介绍：

    该仪器配备了STEM, EDX, CCD, HAADF等多种附件，能获取TEM形貌像、高分辨像和选区电子衍射，能进行EDX能谱分析，同时STEM结合EDX点、线、面扫描可以进行微区能谱分析，主要用于无机材料微结构与微区组成的分析和研究。主要的应用范围包括除磁性材料之外的无机材料的微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、晶体结构等方面的分析，不适用于有机和生物材料。

主要规格及技术要求：

加速电压： 200 kV

高分辨极靴 (S-TWIN)

放大倍数：25-1,000,000

点分辨率：0.24nm

线分辨率：0.14nm；

STEM分辨率：优于0.2 nm

电子束能量色散：< 0.7eV

EDAX能谱仪 (EDS)：5B～92U；能量分辨率：～136eV

样品最大倾斜角：±40度

仪器选件及功能：

X射线能谱仪（EDS）（用于样品成分分析）

STEM和HAADF探头（用于测试STEM-HAADF暗场像，并与EDS结合测试点、线、面的元素分布）

双倾样品杆（用于测量需要两个方向倾转的样品）

检测项目：

低倍形貌像、高分辨像、选区电子衍射、成分分析、元素分布

主要工作：

1. 无机纳米材料的形貌及结构分析；

2. 无机纳米材料的成分分析及与其微观结构相对应的元素分布分析；

3. 金属薄膜样品的形貌、结构及成分分析。