首页 >> 检测服务 >> 仪器设备 >> 结构与成分检测室

结构与成分检测室

透射电子显微镜

发表日期:2019-03-24来源:放大 缩小
仪器设备介绍
该仪器配备了STEM, EDX, CCD, HAADF等多种附件,能获取TEM形貌像、高分辨像和选区电子衍射,能进行EDX能谱分析,同时STEM结合EDX点、线、面扫描可以进行微区能谱分析,主要用于无机材料微结构与微区组成的分析和研究。主要的应用范围包括除磁性材料之外的无机材料的微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、晶体结构等方面的分析,不适用于有机和生物材料。
名称:场发射透射电子显微镜
型号:FEI Tecnai G2 F20
国别:美国
厂别:美国FEI公司
安装年份:2010年
价格:600万
仪器现状:正常
联系人:么爽
电话:0431-85262686 13804327322
电子邮件:yaoshuang@ciac.ac.cn
主要规格及技术指标
加速电压: 200 kV
高分辨极靴 (S-TWIN)
放大倍数:25-1,000,000
点分辨率:0.24nm
线分辨率:0.14nm;
STEM分辨率:优于0.2 nm
电子束能量色散:< 0.7eV
EDAX能谱仪 (EDS):5B~92U;能量分辨率:~136eV
样品最大倾斜角:±40度
仪器选件及功能
X射线能谱仪(EDS)(用于样品成分分析)
STEM和HAADF探头(用于测试STEM-HAADF暗场像,并于EDS结合测试点、线、面的元素分布)
双倾样品杆(用于测量需要两个方向倾转的样品)
检测项目
低倍形貌像、高分辨像、选区电子衍射、成分分析、元素分布。
 
 
 
检测标准
JY/T 011-1996 透射电子显微镜方法通则
主要工作
1. 无机纳米材料的形貌及结构分析;
2. 无机纳米材料的成分分析及与其微观结构相对应的元素分布分析;
3. 金属薄膜样品的形貌、结构及成分分析。
代表论文
1. Ultrafast Synthesis of Novel Hexagonal Phase NaBiF4 Upconversion Nanoparticles at Room Temperature, Adv. Mater., 2017, 29(22), 1700505.
2. Ultrafast Synthesis of Ultrasmall Poly(Vinylpyrrolidone)-Protected Bismuth Nanodots as a Multifunctional Theranostic Agent for In Vivo Dual-Modal CT/Photothermal-Imaging-Guided Photothermal Therapy,Adv. Funtc. Mater. 2017, 27(35), 1702018.
3. Microstructures and mechanical properties of a high-strength Mg-3.5Sm-0.6Zn-0.5Zr alloy,Materials Science & Engineering A, 2017, 703, 97.
专利
支撑项目
1. 国家自然科学基金重大项目-新型稀土发光材料的晶体场调控、缺陷剪裁和生物应用探索
2. 国家自然科学基金面上项目- CeO2基复合氧化物介孔材料的制备及低温净化汽车尾气的研究
3. 国家自然科学青年科学基金项目-压铸Mg-Al-RE系合金强化机理和蠕变机制的研究
服务单位
为有相关测试需求的大专院校、科研院所、企事业单位等提供分析测试服务。
附件: