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球差校正透射电子显微镜

发表日期:2021-10-29来源:放大 缩小

仪器名称:球差校正透射电子显微镜

型号:Themis Z     

生产厂家:ThermoFisher  

安装年份:2021年

联系人:邓瑞平 

电话:0431-85262179       

电子邮箱:dengrp@ciac.ac.cn   

价格:2000万元    

仪器设备介绍:

该仪器配备了Image球差矫正器、Probe球差矫正器、超亮枪、单色器、Super-X EDS能谱;Gatan 965型电子能量损失谱、Ceta2 CMOS 4K相机、STEM、BF、DF探头等;配有洛伦兹透镜、三维重构及低剂量曝光技术等功能;有300/200/60 kV三个工作电压,可以在原子尺度上进行材料结构和成分表征和分析,获得高质量的HRTEM、HRSTEM、电子衍射图像等信息,通过EDS和EELS等选件,可以进行原子尺度的材料成分和价态表征;通过三维重构选件,可以获得材料三维空间的结构和成分信息等。

主要规格及技术要求:

三个工作电压: 300/200/60 kV;

分辨率: TEM: 60 pm@300 kV, 100 pm@60 kV;

STEM: 60 pm@300 kV, 110 pm@60 kV;

能量分辨率:0.2 eV(加单色器);

EDS能谱分辨率:133 eV,元素测试范围B(5)-Am(95);

电子能量损失谱:单色性:<2 eV;色差:<0.5%;畸变:<0.75%;CCD像素:2048×2048;配备UltraFast EELS系统

双倾样品杆最大倾斜角:α:±40°;β:±30°;

三维重构:最大倾角:±70°;最小步长:0.2°

仪器选件及功能:

Super-X EDS能谱,用于样品元素分析,一般用于重元素分析;

GIF 965电子能量损失谱:用于元素分析和价态表征等,尤其对轻元素分析有优势;

三维重构,可以获得样品三维尺度的信息;

低工作电压和低剂量曝光技术,可以用于一些电子束敏感材料的表征;

检测项目:

原子级分辨TEM/STEM及成分表征分析、选区电子衍射、元素价态分析、电子束敏感材料表征、三维重构等

主要工作:

1. 材料原子级分辨的形貌及结构表征分析;

2. 材料原子级分辨的成分分析及价态分析;

3. 材料形貌和成分三维重构;

4. 电子束敏感材料表征;

5. 无场环境大视野观察

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